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標(biāo)準(zhǔn)壓縮式真空計(jì)比對(duì)校準(zhǔn)真空計(jì)的方法

標(biāo)準(zhǔn)壓縮式真空計(jì)比對(duì)校準(zhǔn)真空計(jì)用比對(duì)法校準(zhǔn)其它標(biāo)準(zhǔn)真空計(jì)量器具，在壓力范圍內(nèi)，是一可靠的壓力標(biāo)準(zhǔn)，因此，各國普遍將它確定為國家真空計(jì)量的基準(zhǔn)器具。

動(dòng)態(tài)流導(dǎo)法校準(zhǔn)真空計(jì)的方法

動(dòng)態(tài)流導(dǎo)法有時(shí)也稱為動(dòng)態(tài)流量法和小孔法校準(zhǔn)，其校準(zhǔn)下限隨真空獲得和小流量測(cè)量水平而延伸。是目前超高真空和極高真空的切實(shí)可行的校準(zhǔn)方法。

靜態(tài)膨脹校準(zhǔn)低真空計(jì)方法

膨脹法校準(zhǔn)是基于波意耳定律，即在恒定的溫度下，一定質(zhì)量的氣體的壓力與體積之積為一常數(shù)。首先將氣源室中充有需要壓力為p1的校準(zhǔn)氣體，由標(biāo)準(zhǔn)真空計(jì)G2測(cè)量。

真空計(jì)校方法準(zhǔn)概述

“真空計(jì)校準(zhǔn)”就是對(duì)相對(duì)真空計(jì)進(jìn)行“刻度”。真空計(jì)刻度是在一定條件下對(duì)一定種類氣體進(jìn)行的，從而得到校準(zhǔn)系數(shù)或刻度曲線。

質(zhì)譜計(jì)的分類與主要性能參數(shù)

質(zhì)譜計(jì)根據(jù)質(zhì)量分析系統(tǒng)的工作原理可分為磁偏轉(zhuǎn)質(zhì)譜計(jì)、回旋質(zhì)譜計(jì)、飛行時(shí)間質(zhì)譜計(jì)、射頻質(zhì)譜計(jì)、諧振感應(yīng)質(zhì)譜計(jì)和四極質(zhì)譜計(jì)等。

反映真空質(zhì)量——分壓力測(cè)量

為了測(cè)量真空中混合氣體組分和相應(yīng)的分壓力值，必須進(jìn)行分壓力測(cè)量，所用的儀器稱為分壓力真空計(jì)，分壓力真空計(jì)是專用的小型質(zhì)譜儀器——真空質(zhì)譜計(jì)。

質(zhì)譜儀運(yùn)行要求高真空的原因

解釋下質(zhì)譜儀運(yùn)行要求高真空的原因

一種四極桿質(zhì)譜儀真空測(cè)量及控制系統(tǒng)的研制

本文介紹了一種用于四極桿質(zhì)譜儀的真空測(cè)量與控制系統(tǒng)，詳細(xì)闡述了系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、系統(tǒng)硬件電路及軟件設(shè)計(jì)等。

一種四極桿質(zhì)譜儀真空測(cè)量及控制系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果

一種四極桿質(zhì)譜儀真空測(cè)量及控制系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)

一種四極桿質(zhì)譜儀真空測(cè)量及控制系統(tǒng)的軟件控制主要包括兩個(gè)方面：一個(gè)是高真空規(guī)即潘寧規(guī)的自動(dòng)開啟與關(guān)斷;另一個(gè)是儀器單元之間的級(jí)聯(lián)控制。

一種四極桿質(zhì)譜儀真空測(cè)量及控制系統(tǒng)的硬件電路設(shè)計(jì)

本文講述了一種四極桿質(zhì)譜儀真空測(cè)量及控制系統(tǒng)的硬件電路設(shè)計(jì)。

一種四極桿質(zhì)譜儀真空測(cè)量及控制系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖

四極桿質(zhì)譜儀真空測(cè)量及控制系統(tǒng)主要由ARM 微控制器、ADC 采集電路、CAN 通訊接口、HM-TRP 無線收發(fā)模塊、上位機(jī)和真空規(guī)組成。

四極質(zhì)譜儀在電子誘導(dǎo)脫附實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用

在ESD 實(shí)驗(yàn)中，四極質(zhì)譜儀可以分析電子誘導(dǎo)脫附后殘余氣體成分：H2、H2O、CO、CO2 和少量的碳?xì)浠�合物�?/p>

基于四極質(zhì)譜儀航天器單點(diǎn)檢漏應(yīng)用研究

為了研究四極質(zhì)譜儀在航天器單點(diǎn)檢漏應(yīng)用中的可行性，本文對(duì)航天器單點(diǎn)模型和單點(diǎn)檢漏過程進(jìn)行分析，并通過試驗(yàn)對(duì)四極質(zhì)譜儀在航天器單點(diǎn)檢漏進(jìn)行驗(yàn)證。

四極桿質(zhì)譜儀中探測(cè)器——法拉第杯的工作原理

本文介紹了四極桿質(zhì)譜儀中探測(cè)器——法拉第杯的工作原理。

四極桿質(zhì)譜儀中啟用二次電子倍增器 (SEM)優(yōu)缺點(diǎn)

使用四極桿質(zhì)譜儀測(cè)量真空腔體內(nèi)的殘余氣體成份時(shí)，如果要測(cè)量極其小的離子電流或需要極其高的測(cè)量速度，則使用物理前置放大器，即所謂的二次電子倍增器。

空間小型磁偏轉(zhuǎn)質(zhì)譜計(jì)的研制

小型磁偏轉(zhuǎn)質(zhì)譜計(jì)經(jīng)歷3 年多實(shí)現(xiàn)了從原理樣機(jī)、驗(yàn)證件產(chǎn)品以及正樣產(chǎn)品的研制工作，并于2012 年年底在實(shí)驗(yàn)衛(wèi)星上實(shí)現(xiàn)了搭載飛行，迄今為止已實(shí)現(xiàn)在空飛行測(cè)試近兩年。

小型磁偏轉(zhuǎn)質(zhì)譜計(jì)離子源設(shè)計(jì)與驗(yàn)證

本文介紹了用于小型磁偏轉(zhuǎn)質(zhì)譜計(jì) 的離子源結(jié)構(gòu)和供配電關(guān)系設(shè)計(jì)。同時(shí)還對(duì)離子源內(nèi)電場(chǎng)分布、離子運(yùn)動(dòng)軌跡進(jìn)行了仿真分析，并通過質(zhì)譜計(jì)整機(jī)測(cè)試和試驗(yàn)間接驗(yàn)證了離子源設(shè)計(jì)。

電真空器件烘烤排氣過程中殘余氣體質(zhì)譜分析

本文在真空排氣臺(tái)上安裝四極質(zhì)譜儀，通過烘烤排氣過程中器件內(nèi)出氣過程的質(zhì)譜分析，對(duì)陰極及管內(nèi)材料出氣過程及成分研究和評(píng)價(jià)。

四極質(zhì)譜儀真空檢漏方式的優(yōu)缺點(diǎn)及注意事項(xiàng)

使用四極質(zhì)譜儀，可分析真空腔體內(nèi)的殘留氣體，通過實(shí)時(shí)分析氣體成份，也可以實(shí)現(xiàn)真空檢漏。