溫度變化對正壓漏孔校準裝置本底漏率的影響實驗研究

馮焱，張瑞芳，盛學(xué)民，董猛

(蘭州空間技術(shù)物理研究所，甘肅 蘭州 730000)

　　摘要：在實驗室條件下，由于溫度變化引起正壓漏孔校準裝置本底漏率的變化是影響正壓漏孔校準下限的主要因素，因此為盡可能減小溫度對正壓漏孔校準的影響，采用水浴恒溫技術(shù)，利用主動恒溫與被動恒溫相結(jié)合的方式進行恒溫。

　　實驗證明，在未采取恒溫措施的情況下，正壓漏孔校準裝置的本底漏率為10^-8 Pa •m³/s 量級，而在采用恒溫措施后，本底漏率下降到10^-9 Pa •m³/s 量級，且從實驗標準偏差可以看出采取恒溫措施后的本底漏率穩(wěn)定性更好。測量本底漏率后，采用壓力鋸齒波動恒壓法對一支標稱漏率為10^-8 Pa •m³/s 的正壓漏孔進行校準實驗。

　　經(jīng)過多次實驗證明，采取恒溫措施后，實現(xiàn)了正壓漏孔最小漏率為2.667×10^-8 Pa •m³/s 的校準。

　　關(guān)鍵詞：正壓漏孔; 恒溫實驗;水浴恒溫;本底漏率