正壓漏孔校準技術國外研究狀況

2013-03-28 馮焱 蘭州物理研究所

1、德國物理技術研究院(PTB)

  德國物理技術研究院(PTB)于2004 年左右建立了一套大氣壓力下漏孔漏率的測量系統(在我國稱之為正壓漏孔校準裝置),并于2009 年正式發(fā)表了研究論文。校準裝置的原理圖如圖1 所示,裝置的測量范圍為(1×10- 7~1×10- 5) Pa·m3/s,測量不確定度為(0.33%~2%)。

德國PTB 正壓漏孔校準裝置原理圖

圖1 德國PTB 正壓漏孔校準裝置原理圖

  該系統恒溫嚴格,除測量顯示單元外,將包括參考室、變容室、差壓式電容薄膜規(guī)、被測漏孔、閥門和管道等,整個放置在一個多層絕熱的恒溫箱中,用循環(huán)蒸餾水實現主動恒溫。系統采用半自動操作,活塞驅動過程自動完成,其它操作在計算機程序的提示下手動操作。由于德國柏林的大氣壓接近于一個標準大氣壓,故該校準裝置沒有配備抽氣機組,而直接將大氣引入到變容室做為出口壓力,使得該校準裝置的結構簡單、操作方便,減小了設計難度。

  為兼顧測量下限和測量上限,裝置變容室的容積Vwv=7.9 cm3,參考室的容積Vref=23.2 cm3。在一個大氣壓和Vwv=7.9 cm3 條件下,補償20 Pa 的壓力上升,需要一個1.5 mm3 的體積變化,直徑為0.8 mm 的細桿移動3 mm 的位移可以形成該體積的變化。該裝置的活塞設計參照了這個標準,其直徑經過PTB 計量為(0.7983±0.0010)mm,通過柱狀聚四氟乙烯的密封材料形成與變容室的動密封。

  差壓傳感器為滿量程為133 Pa 的電容薄膜規(guī)(CDG,MKS616A01TRE),信號放大器安裝在絕熱箱內部,但是與校準和參考容積絕熱隔離。另外,使用MKS 的滿量程為133 kPa 的規(guī)(310BHS- 100)用來測量大氣壓力patm,該儀器由PTB 的水銀壓力計來校準。裝置還采用了四個經校準過的PT100 傳感器用來記錄水溫控制的溫度,要求變容室、參考容積和測試漏孔的溫度保持接近。

  PTB 采用的校準方法是,當V2 和V3 關后,就形成了兩部分體積:在V1、V2 和電容薄膜規(guī)之間的容積Vwv,以及電容薄膜規(guī)和V3 之間的參考容積Vref。在這兩部分容積之間的任何壓力變化都可以由量程為±133 Pa 的差壓規(guī)測得。當V1 打開時,正壓漏孔中流出的氣體使Vwv 中的壓力持續(xù)上升,為了消除Vwv 的壓力上升,通過調節(jié)活塞移動來增加容積ΔV;钊{節(jié)Vwv 的容積呈間歇性的變化,故使得變容室壓力形成鋸齒狀壓力變化(The saw- tooth Variation of pressure),如圖2 所示。一般測量時間間隔為100 s 到400 s,壓力變化范圍為4 Pa 到100 Pa。

正壓漏孔漏率鋸齒狀測量曲線

圖2 正壓漏孔漏率鋸齒狀測量曲線

  通過多次重復的鋸齒狀的壓力變化,可以得到更加準確的Δt 的平均結果。由于在Vwv 和Vref之間的微小溫度變化就會導致二者之間的壓力差,所以需要保證恒溫環(huán)境和避免熱量對于校準系統的微擾,這就是整個校準系統處于溫控水浴和嚴格的絕熱環(huán)境的主要原因。

  PTB 對一支正壓漏孔在5 年內測試了其漏率的穩(wěn)定性,詳細評定了測量不確定度,而且還在不同溫度(16℃到23℃) 和不同出口壓力(90~110 kPa)條件下進行了漏率的測量,分析并得到了可信的結論,其研究工作非常細致,值得我們借鑒。

2、瑞士BALZERS 公司

  瑞士Balzers 公司在1995 年建立了基于恒壓法的正壓漏孔校準系統,其最小可校漏率2×10- 6 Pa·m3/s,系統總不確定度小于10%,其原理圖如圖3 所示。

瑞士Balzers 正壓漏孔校準裝置原理圖

圖3 瑞士Balzers 正壓漏孔校準裝置原理圖

  與PTB 相似,裝置由正壓漏孔、閥門、活塞、差壓式電容薄膜規(guī)等組成,整體放置在恒溫箱內部,以實現溫度恒定。閥門1 和閥門2 直接與大氣相通,可以直接取大氣壓力作為正壓漏孔出口端和參考室的壓力,這樣就不需要額外提供氣源和真空抽氣系統,大大降低了裝置的復雜程度。

  裝置變容室的容積(文章中稱為系統容積System volume,PTB 稱之為工作容積,本文統稱為變容室容積。)小于7 mL。采用一支差壓式薄膜規(guī)來測量變容室的壓力變化,滿量程為10 Pa。一個數字萬用表和薄膜規(guī)的壓力傳感器相連接,可以將其模擬電壓信號轉換為數字信號,然后再通過計算機采集。

  變容室的容積變化ΔV 是通過一個活塞來實現的,活塞的直徑為0.6 mm,測量不確定度為0.0015 mm,長度為40 mm。活塞通過一個千分尺進行手動驅動,有效行程為5 mm,總不確定度為0.01 mm;钊c變容室采用真空密封結構,其總漏率小于5×10- 8 Pa·m3/s。變容室的絕對壓力由一支經過溫度修正的水銀壓力計來測量。閥門1 和閥門2 采用了聚四氟乙烯密封球閥,在閥門兩端的壓差為1×105 Pa 時,其漏率為1×10- 8 Pa·m3/s。薄膜規(guī)的零點可以通過一個感應線圈去調節(jié),使閥門1 和閥門2 同時開啟時,薄膜規(guī)讀數為零。

  校準裝置采用的測量方法是,首先,在測量前要將裝置所在房間的溫度進行恒溫,以盡可能減小系統的本底漏率,通常情況下需要12 h。然后將正壓漏孔連接到校準系統。打開閥門1 和閥門2,待穩(wěn)定后測量薄膜規(guī)的本底壓差。關閉閥門1 和閥門2,這時變容室的壓力開始上升,用差壓式薄膜規(guī)來監(jiān)測。在整個測量過程中,壓差不超過10 Pa。由于變容室的壓力為1×105 Pa,壓力上升不超過10 Pa 時,認為變容室仍保持在恒壓狀態(tài),且由此帶來的不確定度可以忽略。在實際測量中,當差壓為0.05 Pa 時,移動活塞以增大變容室的容積。對于1×10- 6 Pa·m3/s 的漏孔而言,活塞直徑0.6 mm,移動1 mm,則引起的容積變化為2.83×10- 7 L。當壓差變化為-0.05 Pa 時,活塞停止運動。當壓差再次變化為0.05 Pa 時,重復上述過程,最少測量20 次。壓力測量數據通過計算機采集,相對測量時間直接取計算機的系統時間。形成的測量曲線如圖4 所示。在上圖中,每條壓力上升曲線中均包括了40~160 個壓力測量點,并用直線連接起來,采用線性最小方差進行了分析,并考慮了差壓規(guī)的零點。

型號CL004 的正壓漏孔的鋸齒狀校準曲線

圖4 型號CL004 的正壓漏孔的鋸齒狀校準曲線

  此外,Balzers 公司還對測量結果進行了詳細的不確定度評定,給出了系統誤差、隨機誤差和總不確定度。采用一支型號為CL004,編號為677159V208 的正壓漏孔,用該方法進行了校準,其測量結果為1.7×10- 6 Pa·m3/s,相對不確定度為7.5%。用毛細管測量方法對同一支正壓漏孔進行了測量,其結果為1.63×10- 6 Pa·m3/s,相對不確定度為5%,比對結果的一致性很好。

3、美國材料與測試學會(ASTM)和歐洲標準化委員會(ECS)

  美國材料和測試學會(American Society for Testing and Materials)于1982 年發(fā)表了“校準氣體參考漏孔的標準規(guī)范”(E908- 82),并在1998 年進行了修訂(E908- 98),該規(guī)范選用了毛細管-水柱位移法的校準方法,既可以校準真空漏孔,也可以校準正壓漏孔。歐洲標準化委員會(European Committee for Standardization) 在1995 年發(fā)表的“正壓漏孔的校準方法”(CEN TC 138 WG/6 n3 rev.3),也采用了類似的毛細管-水柱位移法,并對校準條件和體積測量進行了更嚴格的規(guī)定, 在這里我們對這種方法一并進行說明。ASIM 和ECS 采用的毛細管測量方法原理圖如圖5、圖6 所示。

ASIM正壓漏孔校準裝置原理圖

圖5 ASIM正壓漏孔校準裝置原理圖

ECS 正壓漏孔校準裝置原理圖

圖6 ECS 正壓漏孔校準裝置原理圖

  在毛細管方法中,一般采用水作為可流動的位置指示標志,在毛細管的一端連接正壓漏孔,另一端直接與大氣相通。毛細管由玻璃制作,其內徑在(0.012~0.76 mm)之間,ECS 的裝置為0.6 mm,測量不確定度為0.01 mm。當正壓漏孔的氣體流入毛細管后,會推動水柱發(fā)生位移,精確測量位移的大小,大氣壓和測量時間,就可以計算出正壓漏孔的漏率。在具體測量時,首先要使水柱在毛細管內移動一遍以浸濕毛細管,保證在測量時水柱的尺寸保持不變。漏孔與毛細管連通后,水柱開始移動,測量時間與水柱位移的關系如圖7 所示。

毛細管法正壓漏孔漏率測量曲線

圖7 毛細管法正壓漏孔漏率測量曲線

  上圖中,水柱最初移動的70 mm 并沒有用于校準,大約每移動100 mm 記錄一次時間,水柱的精確移動位置是通過一個放大鏡來測量的?梢钥吹,測量數據的線性非常好,說明毛細管內徑的一致性很好,且測量過程沒有受到溫度變化的影響。事實上,每次試驗前測量裝置至少要在室溫下,恒溫12 h。文獻表明,這個方法的測量下限為1.6×10- 6 Pa·m3/s,相對不確定度為5%。除以上機構外,美國NIST、意大利IMGC、韓國KRISS 等均開展了真空漏孔校準及氣體微流量計的研究工作,部分文獻提到其研究的裝置也可以校準正壓漏孔,但沒有專門介紹正壓漏孔校準的相關文獻。

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  正壓漏孔校準技術的發(fā)展概況

  正壓漏孔校準技術國外研究狀況

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