在20 世紀六、七十年代，各國開始對超高環(huán)境獲得有強烈需求，開始對材料的放氣性能進行研究。

　　1963 年斯奇諾蒙（Schram）主張用兩個相同的容器，一個裝有試樣而另外一個是空置的，兩個容器用相同的流導和同一抽氣系統(tǒng)相連接，采用冷卻擋板插板閥阻止油的返流，利用對稱的結構，由兩個容器的壓力差來計算試樣的放氣率，其目的是為了扣除系統(tǒng)本底的影響，如圖1 所示。斯奇諾蒙指出，由于兩個容器解吸不同，兩個流導也有小的差別，兩個電離計的靈敏度的差別更大，在空載時測定系統(tǒng)的本底，用于對放氣率測量值的修正。他采用1 L/s 的流導和1000 cm² 的試樣面積測定多種金屬、玻璃和合成橡膠的放氣率，其數(shù)值與目前的測量值較為接近。

圖1 雙試樣室測量裝置示意圖

　　1967 年在瑞士歐洲核子研究中心工作的卡德爾（Calder）和列文（Lewin）研究了被烘烤金屬的放氣率。把容器本身當作試樣，并對其進行烘烤，不用考慮容器吸附效應帶來的影響；采用一支回旋質譜計測量小孔（0.1 L/s，20℃，N₂） 兩邊的壓力，從而消除了其物理效應帶來的影響，如圖2 所示。對于在250℃經過25 h烘烤的300 系列不銹鋼測得的放氣率為3.9×10^{- 13} Pa·m³/（s·cm²），與后來多家單位測得的數(shù)據很接近，證明這種方法的合理性。

圖2 放氣率測試裝置示意圖

　　1974 年莫洛（Moraw）研究了來自規(guī)管的抽氣和放氣的影響，如圖3 所示。采用傳統(tǒng)的上下室結構，流導能力可在0.09 L/s 和0.15 L/s 之間變換。試樣放氣量與通過小孔的氣體量形成動態(tài)平衡，通過測量小孔兩端的壓力差，并乘以小孔的流導C，計算放氣率的大小。試樣室的溫控范圍為50℃~400℃，可測試在高低溫狀態(tài)下試樣的放氣率和放出的氣體成分。

圖3 莫洛所用的裝置

　　測量材料放氣率的影響因素很多，其中就有電離真空計的影響。裝試樣的容器可以用針閥代替，由此引入純的H₂、CO、O₂ ，并記錄這些氣體對電離真空計和對殘余氣體分析儀的影響。已經發(fā)現(xiàn)用釷銥燈絲，發(fā)射電流為100 μA 時，電離計對氫的抽速為0.12 L/s，對其它氣體的抽速為零，并且還發(fā)現(xiàn)，燈絲上的化學反應頗大，從而改變了殘余氣體的成分。實驗結果表明，使用較小流導所得的測量值與使用較大流導所得的值很一致，當不知氣體成分又不能修正時，建議流導不要小于3 L/s。這是一種傳統(tǒng)的上下室結構，測量比較方便，但不容易去除試樣室本底帶來的影響。

　　在這一時期，材料放氣率測量裝置主要是玻璃系統(tǒng)，通過對各種影響因素的研究，為材料放氣率測量技術的發(fā)展奠定了基礎。