新型等離子體束濺射鍍膜機(jī)

2009-09-02 方立武 北京利方達(dá)真空技術(shù)有限責(zé)任公司

  現(xiàn)有的薄膜制備技術(shù)方法有蒸發(fā)法、濺射法、化學(xué)氣相沉積、電鍍法等。在濺射法中,磁控濺射是使用較為廣泛的一種方法。與傳統(tǒng)的二極濺射相比,磁控濺射除了可以在較低工作壓強(qiáng)下得到較高的沉積率以外,它也可以在較低基片溫度下獲得高質(zhì)量的薄膜。但由于靶源磁場(chǎng)分布的不均勻性,致使其靶材在濺射完成后會(huì)形成刻蝕跑道,而靶面由于這種非均勻的刻蝕會(huì)形成靶中毒現(xiàn)象,中毒區(qū)域的濺射會(huì)不可避免地導(dǎo)致成膜摻雜,致使膜的成分不均勻。相應(yīng)的濺射靶材的利用率也非常的低,通常只有30%以下。

  新型的等離子體束濺射鍍膜法巧妙地組合了濺射鍍膜和等離子體發(fā)生控制技術(shù),并有效地解決了磁控濺射中靶材利用率低和刻蝕跑道的問題。本文提供了這種新型的真空鍍膜技術(shù)方案,即采用等離子體源、等離子體聚束線圈及偏壓電源組成的等離子體束濺射鍍膜機(jī),并應(yīng)用該濺射鍍膜機(jī)成功進(jìn)行了試驗(yàn),得到了刻蝕極其均勻的靶材,提高了靶材的利用率。

1、系統(tǒng)組成與特點(diǎn)

1.1、系統(tǒng)組成

  等離子體束濺射鍍膜機(jī)主要由射頻等離子體源、真空獲得系統(tǒng)、電磁線圈(發(fā)射線圈及匯聚線圈)、偏壓電源、真空室(包括靶材及基片等)、真空控制系統(tǒng)等部分構(gòu)成。其顯著特點(diǎn)是它的等離子體發(fā)生控制系統(tǒng),其示意圖如圖1 所示。等離子體發(fā)生控制系統(tǒng)是鍍膜機(jī)中的關(guān)鍵部分,其中射頻等離子體源位于真空室的側(cè)面,并在等離子體源的出口處及濺射靶材的下方分別配置有一個(gè)電磁線圈。當(dāng)兩個(gè)線圈同向通過電流時(shí),線圈合成的磁場(chǎng)將引導(dǎo)等離子體源中產(chǎn)生的電子沿磁場(chǎng)方向運(yùn)動(dòng),從而使等離子體束被約束在磁場(chǎng)方向上。同時(shí)靶材加有負(fù)偏壓,使濺射離子在電場(chǎng)的作用下加速撞擊靶表面,產(chǎn)生濺射作用。

等離子體發(fā)生控制系統(tǒng)

圖1 等離子體發(fā)生控制系統(tǒng)

  這種鍍膜機(jī)具有非常靈活的控制方式,例如濺射速率可以通過調(diào)節(jié)靶材偏壓和改變等離子體源的射頻功率這兩種途徑進(jìn)行調(diào)節(jié)。等離子體發(fā)生裝置與真空室的分離設(shè)計(jì)是實(shí)現(xiàn)濺射工藝參數(shù)寬范圍可控的關(guān)鍵,而這種參數(shù)闊范圍的可控性使得特定的應(yīng)用能夠獲得最優(yōu)化的工藝參數(shù)。此外,還可以通過控制系統(tǒng)的真空度來進(jìn)行濺射速率的調(diào)節(jié)。

  圖2中所示曲線為靶電流與偏壓曲線、恒定電流密度時(shí)濺射速率與靶偏壓的關(guān)系,其中恒定電流時(shí)射頻功率為500W。

靶電流與靶偏壓的關(guān)系、恒定電流時(shí)濺射速率與靶偏壓的關(guān)系

圖2 靶電流與靶偏壓的關(guān)系、恒定電流時(shí)濺射速率與靶偏壓的關(guān)系

1.2、系統(tǒng)特點(diǎn)

  在等離子體束濺射中,濺射離子均勻刻蝕靶面,并且不會(huì)使靶面產(chǎn)生氧化。與磁控濺射相比,其中的等離子體束是由射頻等離子體源產(chǎn)生的,磁場(chǎng)的作用則是使等離子體束會(huì)聚并偏轉(zhuǎn)至靶面,因此,雖然等離子體束濺射鍍膜系統(tǒng)內(nèi)也有磁場(chǎng),但其磁場(chǎng)卻并不控制影響濺射,這也摒棄了磁控濺射中由磁場(chǎng)不均勻帶來的“磁控”的缺點(diǎn)。在濺射完成后,所得的靶材利用率可高達(dá)90%以上。圖3 即分別進(jìn)行磁控濺射和等離子體束濺射之后靶面刻蝕的對(duì)比圖。由于靶材的利用率大幅度提高,也解決了磁控濺射中所難以克服的缺點(diǎn),即靶中毒導(dǎo)致的刻蝕不均勻

  此外,磁控濺射由于背面磁鐵磁場(chǎng)不均勻而產(chǎn)生濺射跑道,非磁場(chǎng)約束區(qū)很容易產(chǎn)生氧化,因此很難沉積鐵磁性材料,而等離子體束濺射中由于不用磁鐵作為等離子體約束,能夠進(jìn)行鐵磁性材料的鍍膜,并且可以使用很厚的靶材,圖3中實(shí)驗(yàn)金屬鈷的厚度即為6mm。對(duì)于鐵、鎳、鉻以及鐵磁性化合物,等離子體束濺射也都具有很高的濺射速率。

  應(yīng)用該項(xiàng)鍍膜技術(shù)的系統(tǒng)還有一個(gè)優(yōu)點(diǎn),當(dāng)將電磁線圈的極性反接時(shí),由于磁場(chǎng)的方向產(chǎn)生了變化,等離子體束會(huì)在磁場(chǎng)的作用下轟擊基片,從而對(duì)基片產(chǎn)生清洗作用,如圖4 所示。這實(shí)際上可以使得應(yīng)用該項(xiàng)技術(shù)的鍍膜機(jī)省略常規(guī)鍍膜機(jī)的清洗用離子源。

磁控濺射靶面刻蝕與等離子體束濺射靶面刻蝕對(duì)比和靶材利用率低

圖3 磁控濺射靶面刻蝕與等離子體束濺射靶面刻蝕對(duì)比和靶材利用率低。圖4 基片清洗過程