真空蒸發(fā)鍍膜過程中的真空條件

2013-03-26 張以忱 東北大學(xué)

  蒸發(fā)鍍膜過程中,從膜材表面蒸發(fā)的粒子以一定的速度在空間沿直線運(yùn)動,直到與其他粒子碰撞為止。在真空室內(nèi),當(dāng)氣相中的粒子濃度和殘余氣體的壓力足夠低時,這些粒子從蒸發(fā)源到基片之間可以保持直線飛行,否則,就會產(chǎn)生碰撞而改變運(yùn)動方向。為此,增加殘余氣體的平均自由程,以減少其與蒸發(fā)粒子的碰撞幾率,把真空室內(nèi)抽成高真空是必要的。

  當(dāng)真空容器內(nèi)蒸發(fā)粒子的平均自由程大于蒸發(fā)源與基片的距離(以下稱蒸距)時,就會獲得充分的真空條件。設(shè)蒸距(蒸發(fā)源與基片的距離)為L,并把L看成是蒸發(fā)粒子已知的實(shí)際行程,λ 為氣體分子的平均自由程,設(shè)從蒸發(fā)源蒸發(fā)出來的蒸汽分子數(shù)為N0,在相距為L 的蒸發(fā)源與基片之間發(fā)生碰撞而散射的蒸汽分子數(shù)為N1,而且假設(shè)蒸發(fā)粒子主要與殘余氣體的原子或分子碰撞而散射,則有

  N1/N0= 1- exp(L/λ) (1)

  在室溫(25℃)和氣體壓力為p(Pa)的條件下,殘余氣體分子的平均自由程為

  λ = 6.65×10-1/pcm (2)

  由上式計算可知,在室溫下,p=10-2 Pa 時,λ=66.5 cm,即一個分子在與其它分子發(fā)生兩次碰撞之間約飛行66.5 cm。

蒸發(fā)粒子在飛向基片途中發(fā)生碰撞的比例與氣體分子的實(shí)際路程對平均自由程之比值

  圖2 是蒸發(fā)粒子在飛向基片途中發(fā)生碰撞的比例與氣體分子的實(shí)際路程對平均自由程之比值的曲線。從圖中可以看出,當(dāng)λ=L 時,有63%的蒸發(fā)分子會發(fā)生碰撞。如果平均自由程增加10 倍,則散射的粒子數(shù)減少到9%,因此,蒸發(fā)粒子的平均自由程必須遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于蒸距才能避免蒸發(fā)粒子在向基片遷移過程中與殘余氣體分子發(fā)生碰撞,從而有效地減少蒸發(fā)粒子的散射現(xiàn)象。目前常用的蒸發(fā)鍍膜機(jī)的蒸距均不大于50 cm。因此,如果要防止蒸發(fā)粒子的大量散射,在真空蒸發(fā)鍍膜設(shè)備中,真空鍍膜室的起始真空度必須高于10-2 Pa。

  由于殘余氣體在蒸鍍過程中對膜層的影響很大,因此分析真空室內(nèi)殘余氣體的來源,借以消除殘余氣體對薄膜質(zhì)量的影響是重要的。真空室中殘余氣體分子的來源主要是真空鍍膜室內(nèi)表面上的解吸放氣、蒸發(fā)源釋放的氣體、抽氣系統(tǒng)的返流以及設(shè)備的漏氣等原因所造成的。若鍍膜設(shè)備的結(jié)構(gòu)設(shè)計及制造良好,則真空抽氣系統(tǒng)的返流及設(shè)備的漏氣并不會造成嚴(yán)重的影響。表l 給出了真空鍍膜室壁上單分子層所吸附的分子數(shù)Ns 與氣相中分子數(shù)N 的比值近似值。通常在常用的高真空系統(tǒng)中,其內(nèi)表面上所吸附的單層分子數(shù),遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過氣相中的分子數(shù)。因此,除了蒸發(fā)源在蒸鍍過程中所釋放的氣體外,在密封和抽氣系統(tǒng)性能均良好和清潔的真空系統(tǒng)中,若氣壓處于10- 4 Pa 時,從真空室壁表面上解吸出來的氣體分子就是真空系統(tǒng)內(nèi)的主要?dú)怏w來源。

  表1 高真空下室壁單分子層所吸附的分子數(shù)與氣相分子數(shù)之比

高真空下室壁單分子層所吸附的分子數(shù)與氣相分子數(shù)之比

  A-鍍膜室的內(nèi)表面積,cm2;V-鍍膜室的容積,cm3;ns-單分子層內(nèi)吸附分子數(shù),個/cm2;n-氣相分子數(shù),個/cm3

  殘余氣體分子撞擊著真空室內(nèi)的所有表面,包括正在生長著的膜層表面。在室溫和10-4 Pa 壓力下的空氣環(huán)境中,形成單一分子層吸附所需的時間只有2.2 s?梢,在蒸發(fā)鍍膜過程中,如果要獲得高純度的膜層,必須使膜材原子或分子到達(dá)基片上的速率大于殘余氣體到達(dá)基片上的速率,只有這樣才能制備出純度好的膜層。這一點(diǎn)對于活性金屬材料基片更為重要,因?yàn)檫@些金屬材料的清潔表面的粘著系數(shù)均接近于1。

  在10-2 Pa~10-4 Pa 壓力下蒸發(fā)時,膜材蒸汽分子與殘余氣體分子到達(dá)基片上的數(shù)量大致相等,這必將影響制備的膜層質(zhì)量。因此需要合理設(shè)計鍍膜設(shè)備的抽氣系統(tǒng),保證膜材蒸汽分子到達(dá)基片表面的速率高于殘余氣體分子到達(dá)的速率,以減少殘余氣體分子對膜層的撞擊和污染,提高膜層的純度。

  此外,在10-4 Pa 時真空室內(nèi)殘余氣體的主要組分為水蒸氣(約占90%以上),水氣與金屬膜層或蒸發(fā)源均會發(fā)生化學(xué)反應(yīng),生成氧化物而釋放出氫氣。因此,為了減少殘余氣體中的水分,可以提高真空室內(nèi)的溫度,使水分解,也是提高膜層質(zhì)量的一種有效辦法。

  還應(yīng)注意蒸發(fā)源在高溫下的放氣。在蒸發(fā)源通電加熱之前,可先用擋板擋住基片,然后對膜材加熱去氣。在正式鍍膜開始時再移開擋板。利用該方法,可有效提高膜層的質(zhì)量。